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功率半导体
宽禁带半导体材料研究
宽禁带半导体材料研究
宽禁带半导体材料研究
霍尔效应测量可有效地用于检定几乎所有的半导体生产材料如硅(Si)和锗(Ge)以及大多数的化合物半导体材料包括锗化硅(SiGe)碳化硅(SiC)砷化镓(GaAs)...
霍尔效应测量可有效地用于检定几乎所有的半导体生产材料如硅(Si)和锗(G...
霍尔效应测量可有效地用于检定几乎所有的半导体生产材料如硅(Si)和锗(G...
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检定宽禁带设备
检定宽禁带设备
检定宽禁带设备
表征SiC或GaN晶圆和封装部件级器件的电气性能需要学习新技术，例如使用更高功率的仪器，处理探测和进行低电平测量的挑战，例如在高击穿电压存在下的皮安级泄漏电流
表征SiC或GaN晶圆和封装部件级器件的电气性能需要学习新技术，例如使用...
表征SiC或GaN晶圆和封装部件级器件的电气性能需要学习新技术，例如使用...
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双脉冲测试
双脉冲测试
双脉冲测试
使用的仪器是一个电源或SMU提供电压，一个任意函数发生器(AFG)输出脉冲，触发MOSFET的栅极，使其打开以启动电流传导，以及一个示波器测量产生的波形
使用的仪器是一个电源或SMU提供电压，一个任意函数发生器(AFG)输出脉...
使用的仪器是一个电源或SMU提供电压，一个任意函数发生器(AFG)输出脉...
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验证宽禁带设备
验证宽禁带设备
验证宽禁带设备
这些问题可以使用泰克的IsoVu隔离探头轻松解决，该探头在GaN和SiC器件的工作要求下不会随频率降低，从而可以进行准确的差分测量
这些问题可以使用泰克的IsoVu隔离探头轻松解决，该探头在GaN和SiC...
这些问题可以使用泰克的IsoVu隔离探头轻松解决，该探头在GaN和SiC...
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SP26系列半导体参数分析仪
SP26系列半导体参数分析仪
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参数波形记录提供功率同步电流电压曲线测试IV曲线测试电容电压曲线测试CV曲线测试和功率脉冲IV曲线测量
参数波形记录提供功率同步电流电压曲线测试IV曲线测试电容电压曲线测试CV...
参数波形记录提供功率同步电流电压曲线测试IV曲线测试电容电压曲线测试CV...
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基于高精度SMU的综合 IV/CV性能测试系统
基于高精度SMU的综合 IV/CV性能测试系统
基于高精度SMU的综合 IV/CV性能测试系统
基于高精度SMU的综合IV性能测试系统，内部包含高性能的双用到KEITHLEY数字源表和电源，外部 配置计算机，以及探针台和热成像仪等组成。可以针对各种形式材料...
基于高精度SMU的综合IV性能测试系统，内部包含高性能的双用到KEITH...
基于高精度SMU的综合IV性能测试系统，内部包含高性能的双用到KEITH...
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Smart-1 Auto Curve Tracer 量测系统
Smart-1 Auto Curve Tracer 量测系统
Smart-1 Auto Curve Tracer 量测系统
Smart-1 Auto Curve Tracer 量测系统是一款在集成电路失效分析等领域应用广泛的专业测量设备
Smart-1 Auto Curve Tracer 量测系统是一款在集成...
Smart-1 Auto Curve Tracer 量测系统是一款在集成...
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